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模糊测试方法、存储介质和电子装置制造方法及图纸
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下载模糊测试方法、存储介质和电子装置的技术资料
文档序号:40575697
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本发明实施例提供了一种模糊测试方法、存储介质和电子装置,通过根据待测系统的待测攻击面,构建模糊测试模型;根据模糊测试模型,获取测试用例;根据测试用例,对待测系统进行模糊测试,其中,还引入Hook技术标记污点,反馈指导模糊测试。解决了相关技术...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。
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