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本发明属于核电技术领域，公开了一种老化条件下核电闸门O型圈安全评估方法及系统，数值试验方法允许研究者在获得永久压缩率的同时，得到接触应力和接触宽度随时间的变化规律。这样，结合精确的界面泄漏率模型，即可预测界面泄漏率随时间的变化规律。针对有着...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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