温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种光谱测量方法，一种基于相干衍射成像的光谱测量方法及装置。主要解决现有光谱测量系统对于特殊波段光的测量是较为受限的，同时测量效率较低、系统复杂且成本较高的技术问题。该方法包括以下步骤：1、根据待测光的波段范围，选取对应结构精细度...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。