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本发明提出一种用于测量高光密度薄膜吸光度或透射率光谱的测量方法，基于双光路紫外‑可见分光光度计的测量，通过减小薄膜在吸光度A>4或透射率T<0.01％波段范围内参比光路与样品光路之间光能量的强度差，并且提高信号强度，从而获得所述...
该专利属于上海光学仪器研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海光学仪器研究所授权不得商用。

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