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本申请公开了一种半导体量子芯片的测控系统及量子计算机，测控系统包括：位于第一温区的射频源，用于输出读取半导体量子芯片上量子点信息的第一微波信号；位于第二温区的谐振读取单元，用于传输所述第一微波信号至半导体量子芯片上感应量子点的栅极，接收并转...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

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