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本发明的问题在于提供一种光学检测装置及其制造方法，其可以改善像素之间的遮光特性和各像素的光电转换效率。本发明的解决方案在于所述光学检测装置包括基板；多个光电转换单元，其设置在所述基板内；和遮光膜，其在所述基板内至少设置在所述光电转换单元之间...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。

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