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本申请提供一种芯片测试电路以及芯片，在一种芯片测试电路中，包括：测试状态控制器，测试指令寄存器，测试数据寄存器、译码电路、测试模式控制管脚和测试双向管脚。测试状态控制器会接收来自测试模式控制管脚的状态控制信号，并根据状态控制信号调整测试状态...
该专利属于紫光同芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过紫光同芯微电子有限公司授权不得商用。

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