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本发明涉及一种三维空间触控操作的方法，该三维空间中设有触控系统，所述触控系统在三维空间内投射出虚拟三维空间目标物件，通过触控系统中的触控面板扫描侦测其由电场变化而引起的电容变化趋势，从而确定触控对象的外部形态、相对位置以及触控动作，并计算出...
该专利属于苏州瀚瑞微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州瀚瑞微电子有限公司授权不得商用。

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