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基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质技术
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下载基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质的技术资料
文档序号:40427629
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本申请涉及计算机技术领域并提供一种基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质。方法包括:校正第一环路系统在开环状态下的第一环路带宽;基于相位裕度,确定零点频率相对于第一环路带宽的第一比值和极点频率相对于第一环路带宽的第二比值;基于第一比...
该专利属于芯耀辉科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芯耀辉科技有限公司授权不得商用。
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