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本发明涉及芯片缺陷分割技术领域，具体涉及一种基于U‑Net的激光芯片缺陷自动分割方法，包括：S1、采集数据集；S2、数据集预处理；S3、基于U‑Net网络进行采样，形成预测缺陷图；S4、采用Dice_loss作为损失函数计算误差；S5、迭代...
该专利属于太原理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过太原理工大学授权不得商用。

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