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目前相控阵天线常规发射监测方法，采用基于单帧单脉冲发射中场测试方法，一个帧周期只能实现一个通道的发射幅相测试。全阵单频点监测时间为阵面单元通道数量与帧周期之积；对于大型相控阵天线，单元通道数众多，全阵监测时间较长，效率低下。本发明针对大型相...
该专利属于中国电子科技集团公司第十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十四研究所授权不得商用。

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