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本发明涉及极片电阻的测量的技术领域，特别是涉及一种高对中性的极片电阻厚度测量装置，其保证设备的高对中性，确保载荷和位移的测量精度以及确保活动板在运动过程中的平行度，提高载荷和位移的采集精度；包括施压装置、支撑框架和测量组件，支撑框架顶端安装...
该专利属于凯尔测控技术（天津）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过凯尔测控技术（天津）有限公司授权不得商用。

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