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本发明属于集成电路恒温自动化测试系统技术领域，具体涉及一种数字隔离芯片三温自动化测试机构系统，包括框体、测试装置、传送机构、制冷装置和六轴机架人，所述测试装置与传送机构可拆卸连接，所述传送机构位于测试装置的两侧，所述制冷装置与框体的侧壁活动...
该专利属于上海芯哲微电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯哲微电子科技股份有限公司授权不得商用。

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