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本申请涉及用于确定失效原因的方法、装置、设备、存储介质和程序产品。在确定失效原因的方法中，获得根因分析模型。该根因分析模型被配置为基于分别与待分析元件的多个部分的失效有关的多个量化表示，来标识待分析元件失效的根本原因。如果接收到一组输入样本...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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