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本发明公开了一种高性能薄膜开关的生产装置，涉及控制柜领域，包括工作台；检测机构，其设置在所述工作台的顶部，用于对薄膜开关的控制电路进行导电测试，所述检测机构包括推动部件和导电测试头，所述推动部件和所述导电测试头分别设置在所述工作台顶部的两侧...
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