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本发明提供了一种用于高密度测试芯片地址稳定性的检测方法及装置，包括：获取所述测试芯片的第一地址信号；预定义纠错编码规则；根据所述纠错编码规则，基于所述第一地址信号进行编码，得到纠错码；基于所述第一地址信号和所述纠错码，得到第二地址信号；选取...
该专利属于杭州广立微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州广立微电子股份有限公司授权不得商用。

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