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本发明涉及无损检测技术领域，具体涉及一种基于机器学习的NIR光谱产地鉴别分析方法；采集原始NIP数据；进行光谱预处理，采用预处理算法，对光谱进行整形降噪，从而降低原始数据中的噪声对于分类器的干扰；进行特征提取，得到降维后的数据，采用PCA方...
该专利属于重庆第二师范学院所有，仅供学习研究参考，未经过重庆第二师范学院授权不得商用。

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