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基于微波在馈线系统中发生击穿瞬间产生弧光的特点，目前，真空管发射机输出至馈线系统内微波击穿保护大多采用对弧光进行检测采样作为主要的故障信息获取方法。在真空管输出窗附近、馈线内易发生微波击穿部位和重点保护部位安装采样装置捕捉微波击穿产生的弧光...
该专利属于中国电子科技集团公司第十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十四研究所授权不得商用。

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