下载自动化测试芯片中的测试单元、芯片、系统及测试方法的技术资料

文档序号:40344418

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本申请公开了一种自动化测试芯片中的测试单元、芯片、系统及测试方法,属于芯片技术领域。测试单元中的每个流水线寄存器位于对应的I/O模块与待测试模块组成的最短路径上;待测试模块的时钟信号输出管脚分别与n个流水线寄存器的时钟信号输入管脚相连;待测...
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