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本发明提供了一种基于缺陷迁移技术的缺陷检测方法和系统，该方法包括以下步骤：获取目标设备的第一样本图像，并获取相关设备的历史样本图像集；分别对历史样本图像集进行缺陷特征提取以获取相应的第一缺陷特征图像集；对第一样本图像进行显著性特征提取以获取...
该专利属于常州微亿智造科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过常州微亿智造科技有限公司授权不得商用。

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