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本发明涉及芯片设计技术领域，特别涉及一种全流程测试的验证方法、装置、存储介质及计算机设备。验证方法应用于布局布线工具，包括以下步骤：定时获取测试目录中全流程测试的可测试版本，根据可测试版本选定待测版本，得到对应于待测版本的待测文件；将待测文...
该专利属于华芯巨数（杭州）微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华芯巨数（杭州）微电子有限公司授权不得商用。

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