下载半导体结构及其形成方法的技术资料

文档序号:40328726

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种半导体结构及其形成方法,其中,形成方法包括:提供衬底;在衬底上形成初始沟道结构,初始沟道结构包括若干重叠的沟道层以及牺牲层;形成横跨初始沟道结构的伪栅结构;在伪栅结构两侧形成源漏开口,牺牲层侧壁相对于沟道层侧壁凹陷,成为内部间隔凹槽;在...
该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。