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量子比特串扰测试方法、控制方法、装置及量子计算机。本发明公开了一种量子比特串扰的测试方法，包括：提供一量子芯片，所述量子芯片包括设置在其上的第一量子比特与第二量子比特；获取至少三组实验数据，所述实验数据包括所述第一量子比特上施加的工作电压的...
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