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本发明公开了一种导电滑环性能测试方法及测试装置，该方法包括：将导电滑环转子端引线两两短接，转子端两短接引线与其定子端对应的两引线构成一个回路；转动导电滑环一周，测试定子端对应的两引线之间的电阻值并获取其最大值和最小值，两者之差作为该回路的动...该专利属于华中光电技术研究所（中国船舶集团有限公司第七一七研究所）所有，仅供学习研究参考，未经过华中光电技术研究所（中国船舶集团有限公司第七一七研究所）授权不得商用。