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本发明公开了一种辐照装置及其测试辐射探测器和闪烁晶体性能的方法，该辐照装置包括箱体，箱体内水平设有若干隔板，所有隔板上下间隔以将箱体分成若干腔室，在每个腔室内设有辐照单元；辐照单元包括转动机构，转动机构上设有用于放置放射源的放置槽，且所述转...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十六研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十六研究所授权不得商用。

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