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一种基于光电导效应的无源射频阵列快速测量系统及方法技术方案
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下载一种基于光电导效应的无源射频阵列快速测量系统及方法的技术资料
文档序号:40314529
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本发明涉及一种基于光电导效应的无源射频阵列快速测量系统及方法。该设计将半导体片放置在阵列表面,利用光电导效应,将光源照射在待测无源射频阵列表面的半导体片上产生等离子体,生成的等离子体散射待测无源射频阵列发射的电磁波,根据无源射频阵列的互易特...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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