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本发明实施例提供了一种芯片测试方法、装置及电子设备，针对目标芯片的待测功能，从待测功能涵盖的多个测试点中确定目标测试点，每个测试点对应一个维度的测试参数；基于预先确定的测试点之间的关联性，生成测试点组合；测试点组合中包含目标测试点、与目标测...
该专利属于新华三半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过新华三半导体技术有限公司授权不得商用。

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