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本发明涉及电分析检测卡技术领域，特别是涉及一种直立石墨烯薄膜芯片的电分析检测卡、制备方法和应用；本发明公开了一种直立石墨烯薄膜芯片的电分析检测卡的制备方法，包括以下步骤：步骤A：激光镭雕芯片、步骤B：加工参比Ag/AgCl、步骤C：贴片、步...
该专利属于深圳市溢鑫科技研发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市溢鑫科技研发有限公司授权不得商用。

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