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本发明属于微波测量技术领域，涉及超材料调控元件微波阻抗测量系统及方法。测量系统包括测量夹具、外部场源、待测调控元件和矢量网络分析仪，待测调控元件为对外部场源感应的材料或者元器件，矢量网络分析仪与测量夹具电性连接，待测调控元件置于测量夹具内部...
该专利属于山东非金属材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过山东非金属材料研究所授权不得商用。

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