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本技术提供了一种BMU功能的测试系统,包括:上位机与测试仿真板、待测BMU主控板连接,测试仿真板与待测BMU主控板连接;上位机周期性的发送功能测试数据;测试仿真板接收功能测试数据,并将功能测试数据存储至对应的存储空间,测试仿真板模拟多个BI...该专利属于东软睿驰汽车技术(沈阳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过东软睿驰汽车技术(沈阳)有限公司授权不得商用。
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