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本公开涉及使用缺陷率信息的存储器块编程。方法、系统及设备包含检索存储器的一部分的缺陷率足迹，存储器的所述部分由多个块组成。基于所述缺陷率足迹确定所述多个块中的当前块的层面编程顺序。所述当前块由多个层面组成。所述层面编程顺序是对所述多个层面进...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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