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本发明公开了一种基于F‑P标准具的扫频干涉测距非线性校正方法，扫频光源产生的激光经80:20分束器分配到测量干涉仪和F‑P标准具，测量干涉仪部分采用90:10分束器将光分配到测量光路和参考光路；F‑P标准具用于产生等频率间隔的透射谱峰值信息...
该专利属于中国石油大学（华东）所有，仅供学习研究参考，未经过中国石油大学（华东）授权不得商用。

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