温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本技术涉及一种用于先进封装MRAM存储器的测试架构，在该测试架构中，存储控制器通过无源中介层中的连线与MRAM裸片或裸片堆叠耦合，存储控制器可以通过串行、或者并行或者混合测试机制施加测试逻辑对MRAM裸片或裸片堆叠进行测试。本技术不仅可以有...
该专利属于普赛微科技（杭州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过普赛微科技（杭州）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。