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本申请提供一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质，通过根据初始训练参数，生成第一帧序列，所述第一帧序列中包含状态配置信息与期望状态信息，所述状态配置信息，用于指示待测芯片生成第二帧序列；将所述第一帧序列中的期望状态信息，与所述第二帧序列中的...
该专利属于井芯微电子技术（天津）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过井芯微电子技术（天津）有限公司授权不得商用。

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