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中国科学院上海技术物理研究所
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一种全动态范围高精度阻值测量结构及其测量方法技术
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文档序号:40159918
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本发明公开了一种全动态范围高精度阻值测量结构,结构中的待测电阻R<subgt;t</subgt;的两端连接两根长导线;参考电阻R<subgt;1</subgt;的一端与待测电阻R<subgt;t</sub...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。
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