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本发明公开了一种基于磁共振回波相移差的剩磁测量方法。该方法中测试方向与扫描方向相同，利用磁场非均匀性对自旋回波和梯度回波作用的差异，测量由测试梯度引发的磁场均匀性的变化，利用该变化所导致的两种回波相位改变的差异来量度剩磁强度。本发明方法克服...
该专利属于华东师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东师范大学授权不得商用。

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