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本技术公开了一种电表电源芯片过温保护温度与滞回温度测试工装，属于测试工装技术领域。其中，一种电表电源芯片过温保护温度与滞回温度测试工装，包括电源，多个芯片温度测试电路和示波器；所述电源与多个所述芯片温度测试电路的电源输入端连接；所述芯片温度...
该专利属于杭州得明电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州得明电子有限公司授权不得商用。

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