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本申请涉及医疗器械技术领域，本申请提供一种上下部测量装置。所述上下部测量装置，其包括：上部测量尺和下部测量尺，所述上部测量尺和下部测量尺相对设置；所述上部测量尺，包括：逐层套设的第一主尺、以及若干节第一隐藏尺；所述下部测量尺，包括：逐层套设...
该专利属于中山大学孙逸仙纪念医院所有，仅供学习研究参考，未经过中山大学孙逸仙纪念医院授权不得商用。

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