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测试场景生成方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:40144414
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本发明公开了一种测试场景生成方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取测试场景的场景类型和对应的原始场景参数;对所述原始场景参数进行简化处理,得到至少一个目标场景参数;生成各所述目标场景参数的至少一个参数值;将各所述目标场景参数的参数...
该专利属于北京星云互联科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京星云互联科技有限公司授权不得商用。
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