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单通道脑电信号中的眼电伪迹的检测方法技术
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文档序号:40143843
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本申请提出一种单通道脑电信号中的眼电伪迹的检测方法,其包括:对单通道脑电信号加滑窗处理,分别计算每个窗口内的高阶累积量;通过高阶累积量局部极大值确定眼电伪迹的起始端点和终止端点,由此确定单通道脑电信号中的眼电伪迹的位置。本申请的单通道脑电信...
该专利属于中国人民解放军总医院所有,仅供学习研究参考,未经过中国人民解放军总医院授权不得商用。
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