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本发明公开了一种基于ＬＥＤ阵列共透镜ＴＯＦ深度测量的三维成像方法和系统，采用二维ＬＥＤ阵列作为照明光源，每次仅有一颗ＬＥＤ为点亮状态，ＬＥＤ发射的调制光经投影透镜投射到目标的表面，光电接收器接收目标表面的散射光，测量从光源到目标之间的往返飞...
该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。

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