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基于结构光的三维测量方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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下载基于结构光的三维测量方法、装置、电子设备及存储介质的技术资料
文档序号:40097177
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本发明涉及一种基于结构光的三维测量方法、装置、电子设备及存储介质,其测量方法包括以下步骤:S101、采用DLP投影仪投射结构光;S102、采用CCD摄像机获取待识别物体的图像;S103、解算图像中各点的绝对相位,对格雷码编码的图像求解相位周...
该专利属于江汉大学所有,仅供学习研究参考,未经过江汉大学授权不得商用。
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