温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了磁场穿透深度测量系统及测量方法。磁场穿透深度测量系统包括：图像获取及处理装置，用于获取超导薄膜样品的图像，根据超导薄膜样品的形状对超导薄膜样品的屏蔽电流分布进行建模以获得磁场穿透深度与互感系数的函数关系；双线圈互感系统，包括位于...
该专利属于中国科学院物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。