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存内计算结构、基于存内计算结构的自测试方法及自修复方法技术
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文档序号:40066216
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本发明公开一种存内计算结构,所述内存计算结构包括:MBIST模块及(n+1)个IO模块,MBIST模块定义n个IO模块和1个冗余IO模块;其中,每个IO模块包括:存储单元、乘法器、加法器和累加器;MBIST模块在检测到存在故障IO模块时,通...
该专利属于上海砺群科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海砺群科技有限公司授权不得商用。
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