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本发明提供一种扫描检测装置的共模干扰消除方法，通过设置扫描检测装置的扫描周期包括N个分别为干扰信号周期的K+0.5倍的子周期，其中第M子周期与第M+1子周期分别包括长度相同且扫描极性相同的扫描阶段，N为正偶数，K为自然数，M＝1，3，…N‑...
该专利属于格科微电子（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格科微电子（上海）有限公司授权不得商用。

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