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本发明提供Ｘ射线检查装置。Ｘ射线检查装置（１００）通过对物品照射Ｘ射线（Ｓ１），利用光电二极管阵列（４００）检测出通过闪烁器（３００）被变换的光，由此检测出物品６００内的微小异物６１０，该Ｘ射线检查装置在闪烁器（３００）的Ｘ射线照射一侧层叠...
该专利属于株式会社石田所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社石田授权不得商用。

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