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本发明公开了一种基于准正则模式的光学分析方法、系统、装置及存储介质，方法包括：获取纳米结构的结构信息和材料信息，构建纳米结构的三维或二维模型；获取辅助公式，通过辅助公式求解特征方程组，得到纳米结构的谐振子的本征谐振模式；获取入射光的参数；调...
该专利属于中山大学所有，仅供学习研究参考，未经过中山大学授权不得商用。

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