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提供了一种通过单一测试卡中的多个端口使服务器中的多个PCIE槽饱和的方法和系统。本公开的一方面提供了一种用于通过多个测试端口使多个I/O槽饱和并验证I/O槽与测试端口之间的链路健康状况的方法和系统。在操作期间，该系统检测具有多个测试端口的测...
该专利属于慧与发展有限责任合伙企业所有，仅供学习研究参考，未经过慧与发展有限责任合伙企业授权不得商用。

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