下载基于深度自表示学习框架的高光谱异常检测方法的技术资料

文档序号:39973175

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本发明提出了一种基于深度自表示学习框架的高光谱异常检测方法,主要解决现有方法检测效果不佳的问题。方案包括:1)提取高光谱图像的多尺度空间特征;2)对每一个超像素块分别构建子空间复原自编码器SRAE网络模型,并针对模型设计联合损失函数;3)利...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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