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一种用于测量光学畸变的可调平台制造技术
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下载一种用于测量光学畸变的可调平台的技术资料
文档序号:39955205
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本发明属于光学畸变测量技术领域,公开了一种用于测量光学畸变的可调平台,所述畸变测量采用“转角法”,即在视场中心设置目标点并记录图像,然后水平或垂直移动目标点并记录图像,通过图像测量目标点在图像中实际移动量,并与理论值对比,重复测量多个位置的...
该专利属于西安应用光学研究所所有,仅供学习研究参考,未经过西安应用光学研究所授权不得商用。
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